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设备名称 场发射透射电子显微镜
英文名称 Field Emission Electron Microscope
所属领域 新材料
所在单位 清华大学
厂商及型号规格 日本电子 JEM-2010F
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性能参数 "点分辨率:0.23nm;最小束斑尺寸:0.5nm ;
主要功能及应用领域 主要功能:分析物质的微观结构、组成及组成原子的结构和价态;应用领域:电子显微学、材料科学、纳米科技、信息、化学、凝聚态物理、化工、环境等领域
仪器原值(万元) 570万元
启用时间 1998-03-01
联系方式
机构名称 科威国际技术转移有限公司
负责人 谭鸿鑫
联系人 杨 楠
电话 010-62795180-509
邮箱 yangn@ittc.com.cn
地址 海淀区中关村东路1号清华科技园科技大厦B座701B/D室
邮编 100084